- 供應SC-E大米外觀品質檢測儀
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SC-E型大米外觀品質檢測分析儀
1用途：用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質指標的*自動檢測，可進行多參數、批量化的自動分析。
2系統組成：雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦（電腦另配）。
3 主要性能指標：
★配光學分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 cm×20 cm，*小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自動*性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數量、整精米率、可直接檢測大米透明度的國標等級（國家發明專利號ZL 2013 1 0172280.X）、黃粒米、雜質量、異品種粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的碾米精度、裂紋率，以及糙米胚芽率。
自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現性誤差≤±0.02；整精米率、碎米率指標測量誤差≤±1.0%、重現性誤差≤±0.25%）。可大批量自動分析處理與輸出結果。與國標GB/T1350稻谷、GB/T17891優質稻谷或GB1354大米、農業部新標準【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分類判定LS/T6116-2016、糧食行業標準 大米LS/T 3247—2017等標準相對應，檢測各項指標的質量比和粒數比。各分析圖像、分布圖、結果數據可保存，分析結果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖，以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。
★具有自動學習與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。
★具有樣本條碼、電子天平RS232數據軟件接口。可兼測的種粒范圍0.25-20mm，自動數粒精度≥99%，交互修正后準確率達*。
4．環境條件：
溫度10~30℃，相對濕度≤85%，防止強光照射。儀器應放在平穩工作臺上，周圍無強烈的機械振動和電磁干擾；電源要求220V±10%，50Hz。
注：本技術標書中打★款項必須響應，否則為重大偏離
選配電腦推薦：品牌一體機電腦（酷睿雙核CPU / 4.0G內存/1G顯存/ 500G硬盤 / 19.5”彩顯/無線網卡，4個以上USB2.0口，Windows完整旗艦版）
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